エネルギー評価の主役：半価層（HVL）
半価層（Half-Value Layer）とは、放射線の線量を半分（50%）に減らすために必要な吸収体（フィルタ）の厚さのこと。
- 吸収体の材料：診断用X線では主に $\text{Al}$（アルミニウム）、エネルギーの高い治療用X線では $\text{Cu}$（銅）などを用いて計測する。
- 公式の暗記：線減弱係数を $\mu$ とすると、半価層 $d_{1/2}$ は以下の式で求められる。
- $d_{1/2} = \frac{\log_e(2)}{\mu} = -\log_e(0.5) \cdot \mu^{-1} = 0.693 \cdot \mu^{-1}$
- ※ $\log_e(2)$ は約 $0.693$。$\mu$ が大きい（＝減弱しやすい）ほど、半価層は薄い！
- （※ $\log_e$ は「自然対数」といい、$\ln$ と書かれることもあります）
散乱線の影響をなくす配置（ナロービーム）
吸収体で跳ね返った「散乱線」が検出器に入ってしまうと、透過力が実際より強く見積もられてしまう。そのため半価層を正しく測るためには、「狭い線束（Narrow beam）」という特別な配置で測定しなければならない。
散乱線の影響を防ぐため、「小さな照射野」で、「吸収体と検出器を十分に離して」「小型の空気電離箱」で測定するのが望ましい。
均等度と実効エネルギー
得られた半価層から、さらに詳しいエネルギーの性質を導き出す！
完全に一様なエネルギー（単色放射線）なら $H_1 = H_2$ となり、均等度は $1$ になる！一般的なX線は $1$ より小さくなる。